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迅速排除石英標準帶蓋比色皿故障:筑牢實驗重現(xiàn)性的關鍵基石

更新時間:2026-02-06      點擊次數(shù):46
   石英標準帶蓋比色皿潔凈度、完整性和使用規(guī)范直接影響吸光度數(shù)據(jù)的準確性,在日常使用中可能會因操作疏忽、清洗不當或存儲失誤,出現(xiàn)讀數(shù)漂移、基線噪聲、透光率下降、皿體開裂等問題??茖W識別并快速處置石英標準帶蓋比色皿的這些故障,是保障實驗重現(xiàn)性與使用壽命的關鍵。

 


  一、吸光度異常偏高或重復性差
  原因分析:光學面指紋、水漬、殘留污染物或氣泡附著。
  解決方法:
  立即重新清洗:用超純水沖洗后,滴加少量無水乙醇,用單張鏡頭紙單向輕拭光學面;
  檢查樣品是否含懸浮顆粒,必要時離心或過濾(0.22μm);
  注液后輕敲皿壁驅除氣泡,確保液面平整無擾動。
  二、透光率顯著下降或全波段吸收增強
  原因分析:石英表面被腐蝕(如接觸HF)、嚴重劃傷或內部沉積頑固污垢。
  解決方法:
  若曾接觸熱濃磷酸或強堿熔融物,石英已不可逆損傷,必須報廢;
  對有機殘留(如染料、油脂),用丙酮或專用光學清洗劑浸泡10分鐘,再以超純水沖洗;
  切勿使用去污粉、鋼絲球或超聲清洗(除非廠家明確支持),以免加劇劃痕。
  三、放入儀器后基線不穩(wěn)或噪聲增大
  原因分析:外壁有水珠、指紋,或未與參比皿匹配。
  解決方法:
  用干燥無絨布擦干外壁,尤其底部和透光面邊緣;
  確認使用配對比色皿組(透光一致性≤0.1%),避免參比與樣品皿材質差異;
  檢查皿蓋是否閉合,防止溶劑揮發(fā)改變濃度。
  四、出現(xiàn)細小裂紋或突然破裂
  原因分析:熱沖擊(如冷皿直接注入熱液)、機械碰撞或內部應力釋放。
  解決方法:
  立即停用!微裂紋會散射光線且易擴展,導致測量失真或泄漏;
  預防措施:樣品溫度與室溫差≤10℃;持握僅限磨砂面;避免堆疊存放;
  存儲時置于專用泡沫盒,每皿獨立分隔。
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